廣州踏實德研儀器有限公司
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X射線光電子能譜儀用于樣品表層元素及價態分析、深度分析、UPS紫外光電子能譜結構分析等
型號：JPS-9030 品牌：日本電子 產地：日本 制造商：日本電子 X 射線光電子能譜（XPS）是材料科學和發展的領域中泛使用的表面分析技術。其原理是利用X射線束（一般會使鋁陽極或鎂陽極）作為入射源，照射在樣品表面導致讓光電子從原子的核心層被激發出。根據測得的光電子所發出的電子動能，再依照能量守恒定律就可以知道電子的結合能，從而也就可知道樣品表面是何物質。 功能用途：樣品表層元素及價態分析、深度分析、UPS紫外光電子能譜結構分析等 技術特點：具有多種非單色化及單色化的X射線源，大功率羅蘭圓提供更高的分析及能量分辨率，兼具Ar離子或Ar原子團簇模式刻蝕及紫外光電子能譜（UPS）測試等可選附件。
X射線光電子能譜儀
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